X熒光涂層鍍層測(cè)厚儀

X熒光光譜儀：涂層鍍層測(cè)厚的高效利器

X熒光光譜儀作為一種先進(jìn)的涂層鍍層測(cè)厚儀，在眾多工業(yè)領(lǐng)域中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供了可靠的技術(shù)支持。

工作原理

X熒光光譜儀基于X射線熒光分析原理。當(dāng)高能X射線照射到涂層表面時(shí)，涂層中的元素原子受到激發(fā)，內(nèi)層電子被擊出，產(chǎn)生電子空位。外層電子會(huì)躍遷填補(bǔ)該空位，同時(shí)釋放出具有特定能量的特征X射線熒光。通過探測(cè)和分析這些熒光的能量和強(qiáng)度，結(jié)合預(yù)先建立的校準(zhǔn)曲線，就能精確計(jì)算出涂層中各元素的含量，進(jìn)而確定涂層的厚度。

核心優(yōu)勢(shì)

1. 非破壞性檢測(cè)：這是X熒光光譜儀的一大突出特點(diǎn)。在測(cè)量過程中，無需對(duì)涂層進(jìn)行取樣或破壞，能夠完整保留產(chǎn)品的原始狀態(tài)，特別適用于對(duì)珍貴樣品或成品的質(zhì)量檢測(cè)，避免了因取樣而造成的產(chǎn)品損壞和浪費(fèi)。

2. 快速高效：儀器具備高速檢測(cè)能力，可在短時(shí)間內(nèi)完成對(duì)涂層厚度的測(cè)量。無論是單點(diǎn)測(cè)量還是對(duì)大面積區(qū)域進(jìn)行掃描測(cè)量，都能迅速給出準(zhǔn)確結(jié)果，大大提高了檢測(cè)效率，滿足了現(xiàn)代化工業(yè)生產(chǎn)對(duì)快速檢測(cè)的需求。

3. 多元素分析能力：不僅可以測(cè)量單一元素的涂層厚度，還能同時(shí)分析涂層中多種元素的含量和分布情況。這對(duì)于復(fù)雜涂層體系的研究和質(zhì)量控制具有重要意義，能夠幫助用戶全面了解涂層的成分和性能。

4. 操作簡便：X熒光光譜儀通常配備友好的用戶界面和智能化的操作軟件，操作人員無需具備深厚的專業(yè)知識(shí)和復(fù)雜的操作技能，經(jīng)過簡單培訓(xùn)即可上手操作。同時(shí)，儀器還具有自動(dòng)校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和分析等功能，進(jìn)一步簡化了檢測(cè)流程。

應(yīng)用領(lǐng)域

廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、五金制品等行業(yè)。在電子行業(yè)，用于檢測(cè)印刷電路板上的鍍層厚度，確保電路的性能和可靠性；在汽車制造中，對(duì)車身零部件的涂層厚度進(jìn)行嚴(yán)格監(jiān)控，提高汽車的耐腐蝕性和外觀質(zhì)量。

以下是X熒光光譜儀測(cè)試電鍍鍍層的儀器詳細(xì)介紹：

鍍層檢測(cè)：

常見金屬鍍層有：

單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內(nèi)，

可最小測(cè)量達(dá)0.001um。

多層厚度范圍:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

鍍層層數(shù)為1-6層

鍍層精度相對(duì)差值一般<5%。

鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

鍍層分析優(yōu)勢(shì)：分析PCB金手指最小尺寸可達(dá)0.2mm

單層分析精度，以Ni舉例：（相對(duì)差值）

元素成分分析:

鍍液分析，目前常見鍍液元素分析有：金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。

ROHS 和無鹵檢測(cè)，高性能SDD探測(cè)器可以檢測(cè)無鹵,實(shí)現(xiàn)鍍層與環(huán)保一機(jī)多用。

金屬成分分析，在檢測(cè)ROHS同時(shí)可檢測(cè)金屬中其他各元素成分含量。

檢測(cè)精度：

Cr，Cd，Hg，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬

檢測(cè)限達(dá)1ppm。

對(duì)這些金屬測(cè)試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達(dá)到下列標(biāo)準(zhǔn)：

A. 檢測(cè)含量大于5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取相對(duì)差值小于1%

B. 檢測(cè)含量在0.5～5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取相對(duì)差值小于2%

C. 檢測(cè)含量在0.1～0.5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取相對(duì)差值小于5%

D. 檢測(cè)含量低于0.1%的元素測(cè)試讀取相對(duì)差值變化率小于10%

測(cè)量精度:

1）精度(單層)：

                              測(cè)厚儀的檢測(cè)精度表

    測(cè)試方法: 在相同的操作條件下，對(duì)同一標(biāo)準(zhǔn)樣板進(jìn)行5次檢測(cè)，檢測(cè)到的平均數(shù)據(jù)與標(biāo)樣板的實(shí)際數(shù)據(jù)作比較。檢測(cè)精度為檢測(cè)平均值與標(biāo)準(zhǔn)樣片實(shí)際值之差（平均誤差）

2）兩層及以上：

  兩層及以上的首層精度符合單層的測(cè)試結(jié)果，但是第二層以上比較復(fù)雜，要根據(jù)上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時(shí)，一層和二層的測(cè)試精度基本符合單層的精度，參照如下的測(cè)試報(bào)告 一層金標(biāo)樣厚度0.101um，第二層鎳的標(biāo)樣厚度為4.52um。

   在 一層厚度在2～5um時(shí)會(huì)大大降低第二層的和第三層的測(cè)試精度，第二層的誤差率會(huì)在5～10%，第三層的誤差率小于15%。

重復(fù)性:

保證重復(fù)性值:≤±5%

    重復(fù)性的檢測(cè)應(yīng)在儀器校準(zhǔn)后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測(cè)樣板做連續(xù)重復(fù)檢測(cè)，連續(xù)測(cè)量必須在同一檢測(cè)點(diǎn)位置使用一同樣片間隔60秒,測(cè)量一共進(jìn)行10次,每次測(cè)量值與10次平均值進(jìn)行對(duì)比。

重復(fù)性=平均誤差÷平均值×100* %.

報(bào)告打印：

可以PDF，Excel格式輸出報(bào)告，歷史數(shù)據(jù)查詢方便

安全使用,維護(hù)與保養(yǎng)

由于儀器非常精密，未經(jīng)允許情況請(qǐng)不要打開儀器外殼，不要對(duì)X射線源和探測(cè)器進(jìn)行改變，由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負(fù)責(zé)任。

儀器安裝一定要平穩(wěn)，儀器后面離墻距離不得小于30厘米，必須使用標(biāo)準(zhǔn)的220V交流電，電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源，插座必須接地良好，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負(fù)責(zé)。

請(qǐng)不要用濕的手觸摸電源部分，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。

進(jìn)行測(cè)量時(shí)，因?yàn)楦唠妷毫髦罼射線源，儀器運(yùn)行時(shí)，不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動(dòng)運(yùn)行或者遵循用戶指南中止。

儀器環(huán)境要求：儀器使用環(huán)境需清潔，溫度適宜15℃~30℃，濕度≤80%,電源：AC: 220V ±5V。

以上細(xì)節(jié)均有可能造成無法預(yù)測(cè)后果，買方應(yīng)予以基本遵守。

X熒光涂層鍍層測(cè)厚儀